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Im In-Institut werden Forschungsprojekte vorrangig als Verbundprojekte mit der regionalen Wirtschaft beantragt und durchgeführt.

Unter dem Gesichtspunkt "Design for Manufacturing" für optoelektronische Schaltungen sollen Forschungsaufgaben für mixed-signal, multi-nature Systemkomponenten bearbeitet werden. Fragen der Entwurfssicherheit/Robustheit werden durch praktische Messungen untersetzt. Aus den Messungen werden Schlussfolgerungen auf den Entwurfsablauf abgeleitet. Darüber hinaus steht der Entwurf und der Test komplexer mixed-signal Systeme im Vordergrund.

Ausserdem unterstützt das In-Institut die Lehre im Bereich des mixed-signal IC-Designs über die Durchführung von Praktikas. Dies trifft vor allem für folgende Lehrveranstaltungen des Master-Studiengangs "System Design" zu: ​

  • Integration von mixed-signal Schaltungen (CMOS)
  • Entwurfsmethodik für mixed-signal Systeme (EDA)
  • Signalverarbeitung
  • Komplexpraktikum

Über die Betreuung von Master-Arbeiten können Studierende in die Forschungsprojekte einbezogen werden. Die Betreuung von Studierenden bildet die 3. Säule für die Tätigkeitsfelder des Institutes.

Arbeitsgebiete

System- und Schaltungsentwurf für analoge mixed-signal und optoelektronische Sensor-IC;

  • Design for manufacturability / Design for yield (DFM/DFY), Optimierung und Entwurfsraumzentrierung, Fragen der Entwurfssicherheit/Robustheit;
  • Studien zum Chiplayout.
  • Messung und Charakterisierung von optoelektronischen Schaltungen;
  • Untersuchung von Umwelteinflüssen und Alterungseffekten.

Entwurf auf der Systemniveau:

  • Cyber-Physical Systems (CPS)
  • Algorithmenentwurf und -analyse,
  • Performance-Analyse (Schwerpunkte: Toleranz gegenüber Signal- und Quantisierungsrauschen (Wortlänge))
  • Verifikation auf Systemniveau: Testbench, Generierung von Referenzpattern

Implementierung komplexer mixed-signal Systeme:

  • Re-konfigurierbare mixed-signal Systeme;
  • Entwurfssicherheit von mixed-signal Schaltungen, Beeinflussung von Schaltungskomponenten;
  • ​Design for testability (DFT): testgerechter Entwurf, Testung von SoC (Boundary Scan).